שקיפות מסוג זה רלוונטית למגוון רחב של יישומים ובהם אנטנות שטוחות, אמצעי מחשוב אנלוגי-אופטי ומערכות דימות קומפקטיות
חוקרים בפקולטה פיתחו גישה המקנה “שקיפות אלקטרומגנטית” למשטחים קשיחים. שקיפות זו נשמרת עבור כל זווית פגיעה של האור במשטח. את המחקר, שפורסם לאחרונה בכתב העת Advanced Optical Materials, ערכו פרופ’ אריאל אפשטיין והדוקטורנט עמית שחם.
הטכנולוגיה החדשנית מבוססת על עיקרון אלקטרומגנטי בשם Generalized Huygens’ condition, המאפשר יצירה של מטא-משטחים חדשניים השומרים על שקיפות אלקטרומגנטית בכל טווח הזוויות. שקיפות גורפת זו (omnidirectional transparency) באה לידי ביטוי הן ברמת תא היחידה המהונדס (מטא-אטום) והן ברמת המשטח השלם (מטא-משטח).
מטא-משטחים קיימים סובלים ממגבלות רבות בכל הקשור לתגובה זוויתית רחבה, והגישה החדשה פותרת בעיה זו.
פריצת דרך זו והשלכותיה רלוונטית ליישומים רבים ובהם אנטנות שטוחות, התקנים אופטיים לעיבוד תמונה אנלוגי, מראות ועדשות דקות ומערכות דימות קומפקטיות.
המחקר ונגזרותיו הוצגו השנה ע”י שחם בכנסים המרכזיים בתחום. בכנס האגודה האירופית לאנטנות ולהתפשטות גלים שנערך בגלזגו (EuCAP 2024) ועדת השיפוט של הכנס זיכתה אותו בפרס המאמר הטוב ביותר בתחום האלקטרומגנטיות, ובכנס נוסף (של ארגון ה-IEEE) שהתקיים בפירנצה (IEEE APS/URS 2024) הוא זכה במקום השני בתחרות למאמרי סטודנטים.
